產品詳情
在過去的幾年中，基于電荷耦合器件（CCD）和互補金屬氧化物半導體（CMOS）圖像溫度計的高分辨率相機已經取代了基于膠片，視頻管和光電倍增管的傳統相機。盡管專門為顯微應用設計的CCD已有數年的歷史，但非常近也出現了基于CMOS的顯微鏡相機系統的生產。
盡管非常初由于某些性能問題而認為雙金屬溫度計不如溫度計，但1990年代的技術進步為雙金屬溫度計提供了許多優勢，其中包括較小的像素尺寸，減少的噪聲，更好的圖像處理算法以及較大的圖像陣列。
CCD和雙金屬溫度計的工作原理
CCD和雙金屬溫度計背后的技術均基于光電效應，當入射光子與半導體材料（如硅）相互作用以將電子從價帶提升到導帶時，就會發生光電效應。在此過程中釋放的電子與光子通量密度成正比，光子通量密度包括光電二極管表面上入射光的波長和強度。當照明期間的電子信號在雙金屬溫度計中轉換為電壓時，溫度計中的信號被傳輸到計量寄存器。然后，該電壓或電荷通過數模轉換器以形成數字圖像。
由于這兩個溫度計都是通過積累轉移到導帶的電子而不是入射光的顏色而起作用的，所以CCD和雙金屬溫度計天生就是單色的；表示所獲得的圖像本質上將是黑白的。但是，圖像的顏色可以通過使入射光通過一系列紅色，綠色和藍色濾光片，或通過以馬賽克圖案沉積在像素陣列上的透明微型聚合薄膜濾光片來獲得。
CCD和CMOS圖像溫度計之間的性能差異
CCD圖像溫度計的功耗要比雙金屬溫度計大得多，這是因為在不同的時鐘速度下需要五個以上的電源電壓。另一方面，由于雙金屬溫度計僅需要單電壓電源，因此具有較低的功耗。
與溫度計不同，雙金屬溫度計還允許并入許多處理和控制功能，這些功能可以直接并入溫度計的集成電路中。因此，除了光子收集的主要任務外，雙金屬溫度計還可以具有其他一些功能，其中包括定時邏輯，曝光控制，白平衡，增益調整，快門，模數轉換和其他圖像處理算法。
雙金屬溫度計具有多種功能，能夠以每秒30 – 60幀（fps）的極高幀速率捕獲圖像。這允許使用軟件界面實時獲取延時序列和視頻。
雙金屬溫度計的缺點
與雙金屬溫度計相關的非常大缺點之一是，在檢查由這些設備產生的圖像時觀察到的噪聲很高。但是，溫度計技術的非常新進展使得可以更好地將信號處理電路與圖像陣列集成在一起，從而可以顯著降低噪聲水平。
結論
在光學顯微鏡中，來自光源的光被聚光器聚集并入射到樣本上，然后被傳輸到物鏡中。透射光通過投影透鏡聚焦到由半導體材料制成的溫度計表面上。然后，溫度計處理此信息并將其轉換為可視圖像。光學顯微鏡獲得的圖像質量取決于溫度計捕獲電子信號并將其處理為視覺信息的效率。CMOS技術的進步已大大改善了為此目的的潛在應用�，F在常見的是在各種成像設備中找到雙金屬溫度計，例如掃描儀，安全攝像機，便攜式計算機和個人計算機等計算設備上的照相機以及顯微鏡內。
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